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數據錯誤對計算機產業來說並不陌生。阿爾法粒子引起的記憶體軟錯誤和磁硬碟驅動器錯誤長期以來一直有很好的研究和記錄。最近，Intel、Google 和 Meta 發表了關於微處理器缺陷導致的無聲數據錯誤 （SDE） 的技術論文，並在行業會議上討論了該主題。本文將重點討論 SDE、Intel 的測試理念和 Intel 數據中心診斷工具。